白光干涉儀能測什么

曉飛儀器

　　白光干涉儀是一種利用白光的干涉現象來進行高精度測量的儀器。它可以測量以下幾種物理量：
　　光學路徑差：白光干涉儀能夠通過干涉圖樣來測量光程差，也就是光在不同路徑中傳播的距離差。這對于研究光的傳播、反射、折射等特性非常重要。
　　光的波長：通過觀察白光干涉圖樣的變化，可以用來精確測量光的波長。白光干涉儀利用了白光中多種不同波長光的干涉特性，從而實現高精度的波長測量。
　　表面形貌：通過使用白光干涉儀，可以高精度地測量物體表面的微小形貌變化，比如表面的粗糙度、凹凸等特征。這在制造業、材料科學等領域具有重要應用。
　　厚度測量：白光干涉儀能夠測量薄膜或涂層的厚度。通過分析干涉條紋的變化，可以計算出膜層的精確厚度。
　　光學特性（折射率等）：通過對白光干涉圖樣的分析，還可以得到材料的折射率、光學透過率等信息。
　　相位差：在干涉現象中，白光干涉儀可以幫助測量不同光束之間的相位差，從而推算出一些材料或空間的物理參數。
　　總的來說，白光干涉儀常用于精密光學測量、材料表面檢測、光學元件測試等領域。

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